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產品名稱:SP-078-X-3.9 所屬分類:ICT測試探針 產品介紹(產品概述): 額定電流:3A 額定電阻:50毫歐姆 滿行程:4.0mm 額定行程:2.60mm 額定彈力:110gf@load 2.6mm(3.9oz) 訂購熱線:400-183-6682
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半導體測試探針臺是一款適用于4-6英寸晶圓測試的基本型探針臺,結構緊湊,配置豐富,可搭配中體式或視頻顯微鏡,實用且性價比高,非常適合高校、研究機構、半導體工廠等實驗室的半導體測試應用,模塊化結構設計,支持后期靈活擴展升級。
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