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產(chǎn)品名稱：GA1353-B 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：GA1353-B探針、尖頭探針、1.36mm測試針、總長36.5mm、彈簧針、測試針、頂針、探針 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：琴鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：鈹銅（或SK4）鍍金（或銠） 鉆孔尺寸：1.70mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：180g 訂購熱線：400-183-6682
產(chǎn)品名稱：G1353-D 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：G1353-D探針、圓頭探針、1.36mm測試針、總長36.5mm、彈簧針、測試針、頂針、探針 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：琴鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：鈹銅（或SK4）鍍金（或銠） 鉆孔尺寸：1.70mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：180g 訂購熱線：400-183-6682
產(chǎn)品名稱：G1353-B 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：G1353-B探針、尖頭探針、1.36mm測試針、總長36.5mm、彈簧針、測試針、頂針、探針 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：琴鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：鈹銅（或SK4）鍍金（或銠） 鉆孔尺寸：1.70mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：180g 訂購熱線：400-183-6682
產(chǎn)品名稱：G1353-A 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：G1353-A探針、杯頭探針、1.36mm測試針、總長36.5mm、彈簧針、測試針、頂針、探針 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：琴鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：鈹銅（或SK4）鍍金（或銠） 鉆孔尺寸：1.70mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：180g 訂購熱線：400-183-6682
產(chǎn)品名稱：PL75-T/PAL75-T 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：PAL75探針、彈簧針、測試針、頂針、探針 訂購熱線：400-183-6682 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：不銹鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：磷銅鍍鎳或鈹銅（SK4）鍍金 鉆孔尺寸：1.40mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：120g
產(chǎn)品名稱：PL75-Q2/PAL75-Q2 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：PAL75探針、彈簧針、測試針、頂針、探針 訂購熱線：400-183-6682 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：不銹鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：磷銅鍍鎳或鈹銅（SK4）鍍金 鉆孔尺寸：1.40mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：120g
產(chǎn)品名稱：PL75-Q1/PAL75-Q1 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：PAL75探針、彈簧針、測試針、頂針、探針 訂購熱線：400-183-6682 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：不銹鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：磷銅鍍鎳或鈹銅（SK4）鍍金 鉆孔尺寸：1.40mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：120g
產(chǎn)品名稱：PL75-M3 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：PAL75探針、彈簧針、測試針、頂針、探針 訂購熱線：400-183-6682 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：不銹鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：磷銅鍍鎳或鈹銅（SK4）鍍金 鉆孔尺寸：1.40mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：120g
產(chǎn)品名稱：PL75-LM/PAL75-LM 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：PAL75探針、彈簧針、測試針、頂針、探針 訂購熱線：400-183-6682 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：不銹鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：磷銅鍍鎳或鈹銅（SK4）鍍金 鉆孔尺寸：1.40mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：120g
產(chǎn)品名稱：PL75-H/PAL75-H 所屬分類：測試探針 產(chǎn)品簡介：PAL75探針、彈簧針、測試針、頂針、探針 訂購熱線：400-183-6682 產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）： 針管：磷銅管鍍金 彈簧：不銹鋼線 套管：黃銅管鍍金 針桿：磷銅鍍鎳或鈹銅（SK4）鍍金 鉆孔尺寸：1.40mm 額定電流：3安培 接觸電阻：50毫歐姆 接觸彈力：120g
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射頻探針是一種用于在晶片層次上測量射頻組件特性的高精度測試工具。
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